試験・実験・解析システム
ダイオード＆トランジスタ温度特性評価
| 業種 | 電気・自動車関連 |
|---|---|
| 主要プロダクト/技術 | 測定器:半導体パラメータアナライザ 冶具:恒温槽、切替器 |
| 担当部署 | 第一エンジニアリング本部/第三営業部 TEL：054-288-8890 |
| 1概要 |
|---|
| 本システムは、ダイオードやトランジスタ等の半導体製品の電気的特性を、恒温槽を用いて温度及び湿度を変化させた状態で、測定・評価する為のシステムです。パソコンから半導体パラメータアナライザや、恒温槽、各種配線の切替器等をGP-IB制御し、測定の自動化及びデータの電子化を行います。 |
| 2導入背景 |
| 恒温槽によって環境を変化させるにはある程度の時間が掛かる為、どうしても待ち時間が発生してしまいます。実際の試験では、段階的に温湿度を変化させながら色々な環境における電気特性を測定しなければならず、環境を変えて測定という処理を何度も繰り返し行わなければなりませんが、環境の変更に掛かる待ち時間はオペレータへの時間的負担も高くなり、なかなか効率の良いデータ収集が難しいものです。
この効率化を目的に、恒温槽やアナライザ及びスイッチユニットをPCからプログラム制御できるようにして、プログラム上で一連の測定条件を一括設定、測定終了までを自動化する必要があります。 |
| 3導入目的 |
| 【オペレータの負荷軽減】 オペレータは測定準備としてスイッチユニット等で配線をしてソフトの設定をし、試験開始を押すだけにしたい。 後はプログラムが温湿度や配線を切替えながら自動測定し、結果がデータファイルとして記録される様にしたい。 【設備の稼働率UP】 設備(恒温槽、半導体パラメータアナライザ等)を効率良く稼動させたい。 【データの保管】 測定データを一括管理し、比較等に利用したい。 |
| 4構成図・イメージ図 |
 |
| 5導入効果 |
【業務効率の改善】
|
| システム別ソリューション一覧へ戻る | ↑ページの先頭へ |
